多功能X射线衍射仪
多功能X射线衍射仪
1.1概述
X射线衍射法是用于材料分析的有效且成熟的技术，水泥、催化剂、石油、能源和制药等行业的从基础研究到质量管理各环节均利用该技术分析材料表征。同时，它也是地质学、材料科学、化学和晶体学专业需要教授的一项重要分析手段。
Miniflex600是功能齐全的通用型X射线衍射仪，可进行多晶材料的
定性和定量分析。在定性分析中，可通过与已知相数据库进行对比来识别未知结构（化学组成或晶相）。在定量分析中，可分析固体混合物表征，以确定晶体化合物的相对含量。
主要特点：
外型小巧的台式机，具有高端分析仪器的卓越测试功能。
浓缩X射线技术—小型化、功能完善、性价比高
先进半导体检测器—高灵敏度、低检测限
完备PDXL软件包—定性、定量、全面分析
工业集成—实用、可靠、操作简便
体积：560（W) X 460 (D) X 700 (H) mm
2、工作条件
工作电压：单相220VAC±10%，50Hz
工作温度：15～35℃
相对湿度：（20~80）%R.H. (无冷凝)
3、主要技术指标
3.1 X射线光源部分
3.1.1 最大输出功率：≥500W；
3.1.2 管电压：≥20～40KV；
3.1.3 管电流：≥2～15mA；
3.1.4 X射线防护标准: 安全连锁机构、剂量符合国标≤1.0μsv/h；
3.1.5 光管类型：固定光管，Cu靶；
3.1.6 冷却方式：内置循环水冷系统，无需外部水冷机
3.2 测角仪部分
3.2.1 扫描方式: θ/2θ（机械连动轴），等间隔脉冲（步进）电机控制。
3.2.2 2q测量范围：≥0°～140°；
3.2.3 测角仪半径：≥150mm；
3.2.4 索拉狭缝：2.5°索拉狭缝。
3.3 探测器部分
3.3.1 一维半导体阵列探测器
3.3.2 通道数：≥120个
3.3.3 最大全局计数率：≥120,000,000cps；
3.3.4 空间分辨率：≤100μm；
3.3.5 背景：≤ 0.1 cps；
3.3.6高灵敏度测试，与传统闪烁计数器相比，强度提高100倍，微量成分更容易被检测到；
3.3.7 探测器有标准模式、抑制荧光背景模式及0D模式。
3.3.8 探测器有效活性面积：≥250mm2。
3.4仪器控制、数据处理软件及数据库
3.4.1 仪器控制软件：可根据测试目的，检查光学器件构成、指导正确构建、调节光学系统、调节样品位置，在适合条件下进行测试；
3.4.2 软件支持全自动调整功能，智能提示测试过程中所需硬件是否安装正确，如安装不正确，会让用户根据提示进行操作，直到安装正确方可进行测试；
3.4.3 数据处理软件：图谱处理包括：平滑、背景扣除、寻峰、点阵参数精密化、晶粒大小与晶胞畸变，微观应力分析，结晶度分析；可完成物相定性分析、物相定量分析；
3.4.4 COD正版数据库。
3.5 旋转样品台
3.5.1 驱动系统：脉冲电机驱动；
3.5.2 样品旋转速度：≥10～80rpm；
3.6数据采集系统
3.6.1数据采集机：上位机：处理器性能不低于i5处理器，内存≥4G，1T及以上硬盘，配备≥27”监控台，数据输出一台；
3.6.2 数据采集机为分体式设计，不与仪器主机集成，数据采集机更新升级、维修拆卸方便；
3.7样品架
3.7.1 铝样品架≥20片；玻璃样品架（0.5mmt）≥20片；玻璃样品架（0.2mmt）≥20片；
